[发明专利]一种源像距检测方法和装置有效
| 申请号： | 201810005172.6 | 申请日： | 2018-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN107990853B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 李海春;王柳 | 申请（专利权）人： | 东软医疗系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00;G01T7/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭化雨;王宝筠<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 110179 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种源像距SID检测方法和装置，在需要检测具有滤线栅的放射线成像设备的SID时，可以获取成像图像中由滤线栅造成的栅影频率分布曲线，根据该栅影频率分布曲线可以确定出频率分布的主体分布位置，根据该主体分布位置查询与该滤线栅技术参数对应的关系模型，由于该关系模型可以体现出主体分布位置与SID的对应关系，故通过查询该关系模型可以得到与该主体分布位置对应的SID，从而可以将该SID确定为该放射线设备当前所需确定的SID。通过滤线栅在成像图像上栅影频率分布曲线中主体分布位置与SID的对应关系可以准确的确定当前SID，不用依靠外部测量设备，降低了确定SID的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 源像距 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种源像距SID检测方法，其特征在于，应用于具有滤线栅的放射线成像设备，在确定所述放射线成像设备的SID时，所述方法包括：/n获取成像图像中由所述滤线栅造成的栅影频率分布曲线；/n根据所述栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置查询关系模型，得到与所述主体分布位置对应的SID，所述关系模型对应于所述滤线栅的技术参数，用于体现频率分布的主体分布位置与SID的对应关系；/n将所述SID确定为所述放射线成像设备的SID。/n
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