[发明专利]一种三轴实验仪试件质量测量装置在审
| 申请号： | 201810011124.8 | 申请日： | 2018-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN108106940A | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 俞缙;廖仁国;蔡燕燕;刘士雨;涂兵雄;周建烽 | 申请（专利权）人： | 华侨大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/06;G01N5/00 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人： | 张松亭;叶碎银 |
| 地址： | 362000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种三轴实验仪试件质量测量装置，包括三轴实验加载系统、用于放置试件的三轴仪应力室，还包括：质量检测单元，用于检测试件的质量，并将试件的质量信号转变成电信号；质量输出单元，用于输出质量信息；所述质量检测单元设置在三轴仪应力室底端，且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元。本发明可以取代传统天平测量方式，对试件在三轴实验前、后进行质量测量，不仅大大提高了试件测量的准确性，还减少了人为测量试件质量的步骤，操作简便，大大提高了实验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 试件 三轴实验 质量检测单元 质量测量装置 质量输出 三轴仪 测量试件 加载系统 实验效率 天平测量 质量测量 质量信号 质量信息 输出 检测 底端 测量 | ||
【主权项】：
1.一种三轴实验仪试件质量测量装置，包括三轴实验加载系统、用于放置试件的三轴仪应力室，其特征在于：还包括：质量检测单元，用于检测试件的质量，并将试件的质量信号转变成电信号；质量输出单元，用于输出质量信息；所述质量检测单元设置在三轴仪应力室底端，且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元。
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