[发明专利]一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法有效

专利信息
申请号: 201810014752.1 申请日: 2018-01-08
公开(公告)号: CN108318514B 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 邱振;卢斌;周尚文;董大忠 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N23/22 分类号: G01N23/22;G01N23/2202;G01N15/08;G01N1/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请实施例公开了一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法,包括:对页岩样品的断面进行镀碳处理;利用台式扫描电镜对所述页岩样品进行初步扫描,确定所述页岩样品中笔石体及围岩中的有机质分布位置;利用聚焦离子束扫描电镜对所述页岩样品的笔石体及围岩中的有机质分布位置处进行成像操作,得到扫描图像;对所述扫描图像进行第一属性提取,分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度;对所述扫描图像中笔石体和围岩的孔隙进行清绘,对清绘后的扫描图像进行第一处理,根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率。可以准确获得笔石体与围岩的有机质丰度和有机质孔隙特征情况。
搜索关键词: 一种 确定 笔石体 围岩 属性 信息 方法
【主权项】:
1.一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法,其特征在于,包括:对页岩样品的断面进行镀碳处理;利用台式扫描电镜对所述页岩样品进行初步扫描,确定所述页岩样品中笔石体及围岩中的有机质分布位置;利用聚焦离子束扫描电镜对所述页岩样品的笔石体及围岩中的有机质分布位置处进行成像操作,得到扫描图像;对所述扫描图像进行第一属性提取,分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度;对所述扫描图像中笔石体和围岩的孔隙进行清绘,对清绘后的扫描图像进行第一处理,根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油天然气股份有限公司,未经中国石油天然气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810014752.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top