[发明专利]一种磁路材料外观检测的光学装置在审
| 申请号： | 201810019544.0 | 申请日： | 2018-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN107966455A | 公开（公告）日： | 2018-04-27 |
| 发明（设计）人： | 张振;蔡园园 | 申请（专利权）人： | 科为升视觉技术（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)32260 | 代理人： | 张欢勇 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁路材料外观检测的光学装置，包括与相机相连的图像处理器，所述相机的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体外围的反光镜、用于给所述反光镜提供光源的背光板、用于将所述反光镜的反射光折射至所述相机镜头的分光镜，所述分光镜发出的光束与相机的光轴平行的同轴光线；所述分光镜与所述反光镜之间还设置有改变光线折射率的回字元件。通过反光镜、分光镜的使用，使得一个相机能够对待测物体的五个部分同时进行拍摄，并通过回字元件让“回”字形最内侧“口”和外围“口”的补集区域的折射率不同，通过折射率之间的差异来计算景深差距，解决待测物体景深不一致问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁路 材料 外观 检测 光学 装置 | ||
【主权项】：
一种磁路材料外观检测的光学装置，包括与相机(3)相连的图像处理器，所述相机(3)的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体(6)外围的反光镜(4)、用于给所述反光镜(4)提供光源的背光板(1)、用于将所述反光镜(4)的反射光折射至所述相机(3)镜头的分光镜(2)，所述分光镜(2)发出的光束与相机(3)的光轴平行的同轴光线；其特征在于：所述分光镜(2)与所述反光镜(4)之间还设置有改变光线折射率的回字元件(5)。
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