[发明专利]一种相位反卷折方法与设备有效

专利信息
申请号: 201810028569.7 申请日: 2018-01-12
公开(公告)号: CN108375746B 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 叶永泉;宗金光 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G01R33/56 分类号: G01R33/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种相位反卷折方法与设备。方法可包括:获取对象的多个回波信号,多个回波信号在不同回波时间内产生;根据多个回波信号产生多个卷折相位图,每个卷折相位图包括一个或多个第一卷折值;根据多个卷折相位图产生相位差映射图,相位差映射图包括一个或多个第二卷折值;对相位差映射图中的第二卷折值进行反卷折操作,产生反卷折相位差映射图;根据反卷折相位差映射图确定的第一场分布映射图;以及根据第一场分布映射图,对每个卷折相位图中的第一卷折值进行反卷折操作,以产生多个反卷折相位图。
搜索关键词: 一种 相位 反卷折 方法 设备
【主权项】:
1.一种相位反卷折方法,所述方法能够被计算机设备执行,所述计算机设备包括处理器和存储介质,所述方法包括:获取对象的多个回波信号,所述多个回波信号在不同回波时间内产生;根据所述多个回波信号产生多个卷折相位图,每个卷折相位图包括一个或多个第一卷折值;根据所述多个卷折相位图产生相位差映射图,所述相位差映射图包括一个或多个第二卷折值;对所述相位差映射图中的第二卷折值进行反卷折操作,产生反卷折相位差映射图;根据所述反卷折相位差映射图确定的第一场分布映射图;以及根据所述第一场分布映射图,对每个卷折相位图中的第一卷折值进行反卷折操作,以产生多个反卷折相位图。
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