[发明专利]一种多点同步测量方法和测量系统、以及存储介质有效

专利信息
申请号: 201810029091.X 申请日: 2018-01-11
公开(公告)号: CN110030922B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 陈百强;李宁;翟学涛;高云峰 申请(专利权)人: 深圳市大族数控科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385 代理人: 汪琳琳
地址: 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种多点同步测量方法和测量系统、以及存储介质,涉及电路板加工设备领域。所述多点同步测量方法包括:控制待测试设备按照一个或者多个测试点进行移动,控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束,使得每束激光束分割为两束次级激光束,其中一束次级激光束照射在待测试设备上,另一束次级激光束返回激光头组件内;采集照射在测试设备上返回的一束或者多束激光束,根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值。本发明实施例所述的多点同步测量方法和测量系统、以及存储介质实现加工设备的工作台多个部位的精度测试,取得准确直观的测试结果。
搜索关键词: 一种 多点 同步 测量方法 测量 系统 以及 存储 介质
【主权项】:
1.一种多点同步测量方法,其特征在于,包括:控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动,控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束,使得每束激光束分割为两束次级激光束,其中一束次级激光束照射在待测试设备上,另一束次级激光束返回激光头组件内;采集照射在测试设备上返回的一束或者多束激光束,根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值;根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值,并得出数据曲线。
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