[发明专利]半导体存储装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201810039753.1 | 申请日： | 2018-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN108694987B | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 姜材锡 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 李少丹;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体存储装置包括：响应于储存数据和预期数据来产生检测码的比较电路，响应于检测码来产生计数码的计数电路，响应于选择信号来将多个预期码中的一个预期码输出为选择码的选择码输出电路，以及多个信号储存电路。比较结果输出电路包括多个信号储存电路，该比较结果输出电路根据选择信号来将计数码与选择码之间的比较的比较结果储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中，以及响应于输出使能信号来将储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中的值输出为结果信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储装置，包括：比较电路，其被配置为响应于储存数据和预期数据来产生检测码；计数电路，其被配置为响应于检测码来产生计数码；选择码输出电路，其被配置为响应于选择信号来将多个预期码中的一个预期码输出为选择码；以及比较结果输出电路，其包括多个信号储存电路，所述比较结果输出电路被配置为根据选择信号来将计数码与选择码之间的比较的比较结果储存在所述多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中，以及比较结果输出电路被配置为响应于输出使能信号来将储存在所述多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中的值输出为结果信号。
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