[发明专利]半导体元件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201810048649.9 申请日: 2018-01-18
公开(公告)号: CN110061001B 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 刘志建;张家隆;吴姿锦;徐伟伦 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体元件及其制作方法,其中该制作半导体元件的方法包括,主要先形成一位线结构于基底上,然后形成第一间隙壁、第二间隙壁以及第三间隙壁环绕位线结构,形成层间介电层于位线结构上,平坦化层间介电层,去除层间介电层以及第二间隙壁以于第一间隙壁以及第三间隙壁之间形成一凹槽,之后再形成一衬垫层于凹槽内。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种制作半导体元件的方法,其特征在于,包含:形成一位线结构于一基底上;形成一第一间隙壁、一第二间隙壁以及一第三间隙壁环绕该位线结构;形成一层间介电层于该位线结构上;平坦化该层间介电层;去除该层间介电层以及该第二间隙壁以于该第一间隙壁以及该第三间隙壁之间形成一凹槽;以及形成一衬垫层于该凹槽内。
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