[发明专利]缺陷修补方法、显示面板在审
申请号: | 201810054284.0 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108231669A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 彭英;李俊峰 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L27/12 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 智云 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种缺陷修补方法、显示面板。由于形成在上层结构层中的第二导线上预留有修补跳线,从而当第一导线和第二导线的交叉区域中产生有缺陷时,即可通过切割第二导线在交叉区域和修补跳线之间的部分,以克服第一导线和第二导线出现跨层短路的缺陷,同时利用修补跳线实现切割后的位于交叉区域两侧的第二导线相互电性连接,进而确保第二导线的导电性能。可见,本发明提供的修补方法的操作难度低易于实现,能够使修补后的显示面板的性能符合要求。 | ||
搜索关键词: | 修补 交叉区域 显示面板 跳线 缺陷修补 切割 上层结构层 导电性能 电性连接 短路 跨层 预留 | ||
【主权项】:
1.一种缺陷修补方法,其特征在于,包括:提供一基底,在所述基底上形成有第一导线和第二导线,所述第二导线位于所述第一导线上方的结构层中,且所述第一导线和所述第二导线在所述基底上的投影相互交叉而具备一交叉区域,在所述第二导线对应所述交叉区域的两侧上分别设置有与所述第二导线连接的修补跳线;当所述交叉区域中存在有缺陷时,切断所述第二导线中在所述交叉区域和所述修补跳线之间的部分,并电性连接分别位于所述交叉区域两侧的所述修补跳线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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