[发明专利]处理被加工物的方法有效
申请号: | 201810067867.7 | 申请日: | 2018-01-24 |
公开(公告)号: | CN108346568B | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 后平拓;工藤仁 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H01J37/32 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;徐飞跃 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种处理被加工物的方法,该方法包括:蚀刻步骤,其包括通过生成包含碳氟化合物气体和/或氢氟烃气体的处理气体的等离子体,来在低温下对载置在载置台上的被加工物的蚀刻对象膜进行蚀刻的主蚀刻;在蚀刻步骤刚执行后或主蚀刻刚执行后,使静电吸盘的温度上升的步骤;和在将静电吸盘的温度设定为高的温度的状态下将被加工物从腔室搬出的步骤。由此,能够在等离子体蚀刻结束后至被加工物从腔室搬出之前,将被加工物上的沉积物除去或使其量减少。 | ||
搜索关键词: | 处理 加工 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用等离子体处理装置来处理被加工物的方法,其特征在于:所述等离子体处理装置包括:提供腔室的腔室主体;载置台,其设置在所述腔室内,且具有用于保持载置在所述载置台上的被加工物的静电吸盘;和调节所述静电吸盘的温度的温度调节机构,所述等离子体处理方法包括:通过在所述腔室内生成包含碳氟化合物气体和/或氢氟烃气体的处理气体的等离子体,来对载置在所述静电吸盘上的被加工物的蚀刻对象膜进行蚀刻的步骤,其中,该步骤包含在利用所述温度调节机构将所述静电吸盘的温度设定为‑30℃以下的温度的状态下蚀刻该蚀刻对象膜的主蚀刻;在进行蚀刻的所述步骤刚执行后,或者所述主蚀刻刚执行后,在所述静电吸盘上载置了所述被加工物的状态下,利用所述温度调节机构使所述静电吸盘的温度上升到0℃以上的温度的步骤;和在通过执行使所述静电吸盘的温度上升的所述步骤而将所述静电吸盘的温度设定成了0℃以上的温度的状态下,将载置在所述静电吸盘上的所述被加工物从所述腔室搬出的步骤。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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