[发明专利]一种芯片内逻辑模型的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201810072807.4 | 申请日： | 2018-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN110082672B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 徐红薇;李硕;董紫淼;李增锴;窦卢新;谢立群 | 申请（专利权）人： | 大唐移动通信设备有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 刘醒晗 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片技术，特别涉及一种芯片内逻辑模型的测试方法及装置。用以在不占用大量逻辑资源的前提下，提高逻辑模型的测试效率和故障覆盖率。该方法为：按照预设的棋盘格式生成测试向量集合，并通过在待测试的逻辑模型中的RAM内写入和读取所述测试向量集合中的测试向量，来完成对RAM的故障测试；其中，在RAM内，每一个存储位均采用了取值相反的两种逻辑值进行了读和写的覆盖，这样，无需对FPGA芯片进行重配置即可以实现RAM检测，并且采用的检测电路结构简单易实现，且占用较少的逻辑资源，从而可以在不占用大量逻辑资源的前提下，准确、全面地检测逻辑模型中的RAM的各类故障，进而提高测试效率和故障覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 逻辑 模型 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片内逻辑模型的测试方法，其特征在于，包括：生成测试向量集合，其中，每一个测试向量的长度等于待测试的逻辑模型的数据位宽，在相邻生成的测试向量之间，处于同一比特位的数据的逻辑值取值相反，以及在同一测试向量中，相邻比特位的数据的逻辑值取值相反；在所述测试向量集合中读取各个测试向量，写满所述逻辑模型中的随机访问存储器RAM，并从所述RAM中读取写入的各个测试向量进行正确性判断，以完成故障测试，其中，所述RAM内的每一个存储位，至少写入两次取值相反的逻辑值。
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