[发明专利]粒子计数方法、实现所述方法的粒子计数装置和粒子分析仪

摘要

本发明涉及一种粒子计数方法，该方法以获取到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔绘制分布曲线，为第一分布曲线；对第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合得到第二分布曲线；计算第一分布曲线和第二分布曲线下的面积，得到第一面积和第二面积；根据所述第一面积和所述第二面积之比对粒子的原始检测数目进行修正，得到粒子计数结果。本发明还涉及实施该计数方法的计数装置和粒子分析仪。本发明通过粒子计数方法的改进对重叠粒子进行了补偿，使得粒子计数结果更加接近真实的粒子数目；可应用于各类粒子数检测仪器，具有广泛的适用性。

主权项

1.粒子计数方法，所述方法包括以下步骤：(1)使粒子流通过微孔，获取到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔；(2)根据步骤(1)的到达时间间隔，绘制所述到达时间间隔的分布曲线，得到第一分布曲线；(3)对所述第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合，得到第二分布曲线；所述三次多项式曲线拟合的拟合方程是：f(t)＝A*t³+B*t²+C*t+D，其中，t为变量，代表步骤(1)的到达时间间隔，A、B、C和D为通过所述第一分布曲线的数据得到的拟合参数；(4)分别计算所述第一分布曲线和所述第二分布曲线下的面积，得到第一面积和第二面积；(5)根据所述第一面积和所述第二面积之比对粒子的原始检测数目进行修正，得到粒子计数结果，修正公式为：其中，所述N为粒子计数结果，所述S₀为第一面积，所述S₁为第二面积，所述N₀为粒子的原始检测数目。