[发明专利]基带芯片高低温特性的测试方法和装置

摘要

本发明提供一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置，待测试基带芯片设置于测试板上，测试板放置于温箱中，温箱设置于船舶上；该方法包括：在温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息；根据位置信息和预设航线中的位置信息，获取待测试基带芯片的定位精度。测试基带芯片在极限温度下的定位精度，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

主权项

1.一种基带芯片高低温特性的测试方法，其特征在于，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；所述方法包括：在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。