[发明专利]基于FPGA的参变量表测试方法

摘要

本发明公开了一种基于FPGA的参变量表测试方法，编辑参变量表，将待测芯片的待测引脚定义为信号参数；将信号参数与硬件测试板卡的测试资源通道关联；设置测试条件并定义字母符号；为信号参数定义一或多行符号化的测试条件参数；定义测试时间参数；加载测试程序初始化下载参变量表数据至FPGA的存储器中；执行测试，调用参变量表函数指令产生触发信号；触发信号有效时，取出参变量表数据解压缩并译码；与信号参数关联的测试资源通道输出测试条件对相应待测引脚进行测试。本发明既可以同时进行多个不同芯片引脚具有相同测试条件设置或不同测试条件设置的测试，也可以分时进行多个不同芯片引脚具有相同测试条件设置或不同测试条件设置的测试。

主权项

1.一种基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，包括如下步骤：A)根据实际需求定制测试方案；B)根据所述测试方案编辑参变量表，将若干待测芯片的待测引脚定义为信号参数；将所述信号参数与硬件测试板卡的测试资源通道相关联；设置测试条件并定义对应的字母符号；为所述信号参数对应定义一行或多行符号化的测试条件参数，将所述符号化的测试条件参数组成的表称为指令表；定义测试时间参数；C)完成参变量表编辑并保存；D)使用所述参变量表开始测试，加载测试程序初始化时，下载参变量表数据至FPGA的存储器中；E)执行测试，所述测试程序中调用参变量表函数指令，产生触发信号；F)当所述触发信号有效时，所述FPGA取出其存储器中的参变量表数据；G)对取出的所述参变量表数据进行解压缩并译码；H)在与所述信号参数关联的所述硬件测试板卡的测试资源通道上输出测试条件，对所述信号参数对应的待测引脚进行测试。