[发明专利]位线的制作方法有效
申请号: | 201810101479.6 | 申请日: | 2018-02-01 |
公开(公告)号: | CN110112119B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 陈品宏;陈意维;蔡志杰;陈姿洁;郑存闵;许启茂 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L23/528 | 分类号: | H01L23/528;H01L21/60 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种位线的制作方式,包含首先提供一基底,基底上覆盖有一非晶硅层,然后形成一氮化钛层覆盖并接触非晶硅层,之后形成一钛层覆盖氮化钛层,然后形成一导电层覆盖钛层,接着进行一加热制作工艺,将氮化钛层转化成一含氮硅化钛层并且将钛层转化为硅化钛层,然后再图案化导电层、硅化钛层、含氮硅化钛层和非晶硅层以形成一位线。 | ||
搜索关键词: | 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于动态随机处理存储器的位线,其特征在于,包含:导电硅层;含氮硅化钛/硅化钛层,接触该导电硅层;以及导电层,覆盖该含氮硅化钛/硅化钛层。
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