[发明专利]用于具有共模电流源的一次可编程存储器(OTPM)阵列的裕度测试有效
申请号: | 201810118681.X | 申请日: | 2018-02-06 |
公开(公告)号: | CN109658970B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | J·A·法菲尔德 | 申请(专利权)人: | 格芯美国公司 |
主分类号: | G11C17/18 | 分类号: | G11C17/18;G11C29/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 李峥;于静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于具有共模电流源的一次可编程存储器(OTPM)阵列的裕度测试。本公开涉及一种包括电流镜控制节点的结构,该电流镜控制节点被配置为调节电流裕度并将调节后的电流裕度提供给至少一个一次可编程存储器(OTPM)单元。 | ||
搜索关键词: | 用于 具有 电流 一次 可编程 存储器 otpm 阵列 测试 | ||
【主权项】:
1.一种包括电流镜控制节点的结构,所述电流镜控制节点被配置为调节电流裕度并且将所述调节后的电流裕度提供给至少一个一次可编程存储器(OTPM)单元。
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