[发明专利]一种序列检测方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201810123306.4 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN108491318A | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 顾中磊;黄佳琳 | 申请（专利权）人： | 深圳市洛酷信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F7/58 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 齐则琳;张雷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种序列检测方法，包括：获取待测序列，待测序列为二进制序列；根据待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序；根据所选择的测试策略和执行顺序对待测序列进行测试，以判断待测序列的随机性。本发明还公开了一种电子设备及存储介质。本发明提供的序列检测方法、电子设备及存储介质，根据待测序列选择测试包中的测试策略和执行顺序，去除冗余测试策略，选择最优测试顺序对序列进行检测，从而提高测试效率。将测试策略分为初级测试包、中级测试包和高级测试包，从而可以对待测序列进行等级量化。 | ||
| 搜索关键词： | 测试策略 存储介质 电子设备 序列检测 测试包 序列选择 随机性 测试 二进制序列 测试效率 初级测试 等级量化 高级测试 冗余测试 测序 去除 检测 | ||
【主权项】：
1.一种序列检测方法，其特征在于，包括：获取待测序列，所述待测序列为二进制序列；根据所述待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序；根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列进行测试，以判断所述待测序列的随机性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市洛酷信息科技有限公司，未经深圳市洛酷信息科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810123306.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
