[发明专利]一种可重入函数的测试方法有效
| 申请号： | 201810124234.5 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN108319553B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 方加强;温耀军 | 申请（专利权）人： | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 彭俊垣 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及嵌入式软件开发技术领域，尤其涉及一种可重入函数的测试方法，包括以下步骤：对模块进行颗粒度划分，将已经划分的颗粒度作为一个测试小单元；对所述测试小单元进行优化形成一个可重入函数；对所述可重入函数再进行颗粒度划分，将划分的颗粒度作为小单元；对每一个所述小单元进行单元测试。本发明的发明目的在于提供一种可重入函数的测试方法，采用本发明提供的技术方案解决了现有可重入函数测试方法测试工作量大的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可重入 函数 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种可重入函数的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：1)、对模块进行颗粒度划分，将已经划分的颗粒度作为一个测试小单元；2)、对所述测试小单元进行优化形成一个可重入函数；3)、对所述可重入函数再进行颗粒度划分，将划分的颗粒度作为小单元；4)、对每一个所述小单元进行单元测试。
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