[发明专利]一种基于宇航应用的PROM评价方法及系统有效
| 申请号： | 201810129656.1 | 申请日： | 2018-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN108492846B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 王亚男;谷瀚天;王文炎;肖爱斌;王喆;朱恒静;张洪伟;孙明;张含 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于宇航应用的PROM评价方法，所述方法包括如下步骤：步骤一：对元器件级进行评价；其中，元器件级评价包括存储单元评价、存储单元‑存储关联特性评价和元器件级功能性能分析；步骤二：对板级进行评价；其中，板级评价包括基本功能验证、端口时序验证、电源拉偏测试、上下电测试和与CPU匹配测试；步骤三：对编程器进行评价；其中，编程器评价包括编程器输出稳定性分析和编程后电阻一致性分析。本发明能够全面的对PROM器件进行评价，对于PROM的评价具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 宇航 应用 prom 评价 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于宇航应用的PROM评价方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：步骤一：对元器件级进行评价；其中，元器件级评价包括存储单元评价、存储单元‑存储关联特性评价和元器件级功能性能分析；步骤二：对板级进行评价；其中，板级评价包括基本功能验证、端口时序验证、电源拉偏测试、上下电测试和与CPU匹配测试；步骤三：对编程器进行评价；其中，编程器评价包括编程器输出稳定性分析和编程后电阻一致性分析。
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