[发明专利]电路板组件的检测方法有效

专利信息
申请号: 201810132447.2 申请日: 2018-02-09
公开(公告)号: CN110132960B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 张益铭;谢世南 申请(专利权)人: 飞旭电子(苏州)有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01B21/00;G01B21/02
代理公司: 上海音科专利商标代理有限公司 31267 代理人: 刘香兰
地址: 215299 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种电路板组件的检测方法,包含以下步骤:在焊接电子元件于电路板形成电路板组件之前,测量焊料层的几何特征值,并和预设值做比较而将焊料层定义优等、中等、劣等或极劣等焊料层,对定义为极劣等焊料层的电路板进行不良品工序;之后,焊接电子元件于电路板并测量焊接层的质量特征值,并和另一预设值做比较而将焊接层定义为良好或较差焊接层;人工检测同时具有中等焊料层与较差焊接层的电路板组件;通过上述检测方法,可有效降低需人工检测的电路板组件的数量。
搜索关键词: 电路板 组件 检测 方法
【主权项】:
1.一种电路板组件的检测方法,其用于检测至少一个电路板组件,所述至少一个电路板组件具有电路板与至少一个电子元件,所述电路板具有至少一个可焊区域,所述可焊区域上设有焊料层,所述电子元件的至少一个接脚能够通过所述焊料层与所述电路板相焊接,使得所述接脚与所述电路板之间能够形成焊接层,所述检测方法的特征在于,包括如下步骤:在焊接所述电子组件于所述电路板之前,测量所述焊料层的至少一个几何参数的几何特征值,比较所述几何特征值与预设几何参数值,并依据比较结果将所述焊料层定义为优等焊料层、中等焊料层、劣等焊料层或极劣等焊料层,对具有所述极劣等焊料层的所述电路板进行不良品工序;在焊接所述电子元件于所述电路板形成所述至少一个电路板组件之后,测量所述焊接层的至少一个质量参数的质量特征值,比较所述质量特征值与预设质量参数值,并依据比较结果将所述焊接层定义为良好焊接层或较差焊接层;人工检测同时具有所述中等焊料层与所述较差焊接层的所述至少一个电路板组件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于飞旭电子(苏州)有限公司,未经飞旭电子(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810132447.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top