[发明专利]位移测量装置、测量系统及位移测量方法有效
申请号: | 201810151188.8 | 申请日: | 2018-02-13 |
公开(公告)号: | CN109557545B | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
发明(设计)人: | 近藤智则;铃木祐太;的场贤一;金谷义宏 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马爽;臧建明 |
地址: | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明获得一种能够精度良好地测量到测量对象面的距离的位移测量装置、测量系统及位移测量方法。本发明的位移测量装置包括:投光部,产生光;传感器头,对测量对象物照射光,且接收所照射的光中在测量对象物的测量对象面反射的光;以及控制部,基于传感器头所接收的光,算出表示与测量对象面之间的距离的值。控制部是以所算出的值包含在预先设定的数值范围内为条件,将所算出的值作为表示到测量对象面的距离的值进行处理,且基于所算出的值,重新设定数值范围。 | ||
搜索关键词: | 位移 测量 装置 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种位移测量装置,其特征在于,包括:投光部,产生光;传感器头,对测量对象物照射所述光,且接收所照射的所述光中在所述测量对象物的测量对象面反射的光;以及控制部,基于所述传感器头所接收的光,算出表示与所述测量对象面之间的距离的值,且所述控制部是以算出的所述值包含在预先设定的数值范围内为条件,将所算出的所述值作为表示到所述测量对象面的距离的值进行处理,且基于所算出的所述值,重新设定所述预先设定的数值范围。
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