[发明专利]存储器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201810152082.X 申请日: 2018-02-14
公开(公告)号: CN109148508B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 宋苏智;金成元;朴日穆;朴钟撤;郑智贤 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H10B63/00 分类号: H10B63/00;H10N70/20;H10B61/00;G11C11/16;G11C13/00
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种存储器件及其制造方法。一种存储器件包括:第一导线;第二导线,所述第二导线沿与所述第一导线相交的方向延伸,使得所述第一导线和所述第二导线在所述第一导线和所述第二导线之间的交叉点处竖直地交叠;以及,存储单元柱,所述存储单元柱位于所述交叉点处。所述存储单元柱可以包括加热电极层和接触所述加热电极层的电阻式存储层。所述电阻式存储层可以包括:楔形存储部和体存储部,所述楔形存储部的宽度随着与所述加热电极层的距离的增加而成比例地连续增加,所述体存储部连接到所述楔形存储部,使得所述体存储部和所述楔形存储部构成单个连续的层,所述体存储部的宽度大于所述楔形存储部的最大宽度。
搜索关键词: 存储 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种存储器件,包括:第一导线,所述第一导线沿第一方向在衬底上延伸;第二导线,所述第二导线沿与所述第一方向相交的第二方向在所述第一导线上方延伸,使得所述第一导线和所述第二导线在所述第一导线和所述第二导线之间的交叉点处竖直地交叠;和存储单元柱,所述存储单元柱位于所述第一导线和所述第二导线之间的所述交叉点处,所述存储单元柱在相对的两端处分别连接到所述第一导线和所述第二导线,所述存储单元柱包括加热电极层和电阻式存储层,所述电阻式存储层接触所述加热电极层,其中,所述电阻式存储层包括:楔形存储部,所述楔形存储部具有倾斜侧壁使得所述楔形存储部的宽度随着与所述加热电极层的距离的增加而成比例地连续增加,和体存储部,所述体存储部连接到所述楔形存储部使得所述体存储部和所述楔形存储部构成单个连续的层,所述体存储部的宽度大于所述楔形存储部的最大宽度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810152082.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top