[发明专利]芯片的测试方法

摘要

本发明提供了一种芯片的测试方法，首先将修调量序列中的修调量从小到大依次写入一个芯片，以找出这块芯片的最优修调量，接下来将已测得的所有芯片的最优修调量的平均值取整作为写入下一块芯片的起始修调量，然后沿着平均修调量两侧交替写入修调量，不用再从小到大依次写入，可以用更少的时间找到后续芯片的最优修调量，所获得的测试结果更具可靠性和稳定性，并减少了测试的时间，提高程序测试效率。

主权项

1.一种芯片的测试方法，其特征在于，所述芯片的测试方法包括：L1：提供晶圆并确定一修调量序列，所述晶圆中形成有j个芯片，其中j>1，j为整数，执行步骤L2；L2：将所述修调量序列中的修调量从小到大依次写入第i芯片，以确定所述第i芯片的最优修调量，其中，0

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