[发明专利]半导体装置有效
| 申请号： | 201810177229.0 | 申请日： | 2013-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN108306647B | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 増田隆哉 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | H03M1/54 | 分类号： | H03M1/54 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 张小稳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体装置。本发明可靠地实现了控制以使得在对参考电压进行AD转换时，参考电压产生电路中的低电压晶体管不被采样保持电路中保持的电压破坏。在半导体装置中，当收到检测参考电压值的指令时，控制内部AD转换器的输入信号的切换的切换控制单元自动地将采样保持电路的输入节点与接地节点暂时地耦接，并且其后，将采样保持电路的输入节点与参考电压产生电路的输出节点耦接。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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