[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201810177805.1 申请日: 2018-03-05
公开(公告)号: CN109509790B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 玉城朋宏 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 房永峰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实施方式的半导体装置具备:半导体层,具有第一面和第二面;第一电极;第二电极;第一导电型的第一半导体区域,设于半导体层中;第二导电型的第二半导体区域,设于第一半导体区域与第一面之间,与第一电极电连接;以及,第二导电型的第三半导体区域,围绕第二半导体区域设置,并设于第一半导体区域与第一面之间,具有第一区域、比第一区域远离第二半导体区域的第二区域、比第二区域远离第二半导体区域的第三区域,第一区域、第二区域以及第三区域的第二导电型的杂质量比第二半导体区域少,第一区域的第二导电型的杂质量比第二区域少,第三区域的第二导电型的杂质量比第二区域少。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,具备:半导体层,具有第一面和第二面;第一电极,与上述第一面相接地设置;第二电极,与上述第二面相接地设置;第一导电型的第一半导体区域,设于上述半导体层中;第二导电型的第二半导体区域,设于上述第一半导体区域与上述第一面之间,与上述第一面相接,与上述第一电极电连接;以及第二导电型的第三半导体区域,围绕上述第二半导体区域设置,并设于上述第一半导体区域与上述第一面之间,与上述第一面相接,具有第一区域、比上述第一区域远离上述第二半导体区域的第二区域、比上述第二区域远离上述第二半导体区域的第三区域,上述第一区域、上述第二区域以及上述第三区域的第二导电型的杂质量比上述第二半导体区域少,上述第一区域的至少一部分的第二导电型的杂质量比上述第二区域的至少一部分少,上述第三区域的至少一部分的第二导电型的杂质量比上述第二区域的至少一部分少。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社,未经株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810177805.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top