[发明专利]一种大斜度井测井曲线的校正方法有效
| 申请号： | 201810186434.3 | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN110244385B | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 夏冬冬;李冀秋;王静;夏东领 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00;G01V5/04 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;何娇 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了大斜度井测井曲线的校正方法，包括以下步骤：获取区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；建立直井标准层的补偿中子值和密度值随深度变化的关系式；获取大斜度井标准层补偿中子的理论值以及密度的理论值；获取大斜度井标准层补偿中子以及密度的实际测量值；获取大斜度井斜井段补偿中子以及密度的校正量；对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。本发明提高了大斜度井中补偿中子曲线和密度曲线环境校正的精度，进而可以进一步指导油田的勘探开发工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 斜度 测井 曲线 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种大斜度井测井曲线的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、选取区域标准层，并获取所述区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；S2、建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，并建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式；S3、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值，并获取大斜度井标准层密度的理论值；S4、获取大斜度井标准层补偿中子的实际测量值以及密度的实际测量值；S5、根据大斜度井标准层补偿中子的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段补偿中子的校正量，并根据大斜度井标准层密度的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段密度的校正量；S6、对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810186434.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
