[发明专利]自动光学检测方法及装置有效
| 申请号： | 201810199984.9 | 申请日： | 2018-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN108445010B | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 鲍杰 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/956 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐清凯 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种自动光学检测方法。该方法包括步骤：对待测物进行扫描并获取待测物的灰阶图像；获取待测物的彩色图像；根据灰阶图像确定待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取缺陷的位置信息；以及根据位置信息从彩色图像中提取与位置信息相对应的缺陷图像。本发明还涉及一种自动光学检测装置，包括扫描相机，用于对待测物进行扫描并获取待测物的灰阶图像；拍照相机，用于获取待测物的彩色图像；图像处理器，用于根据灰阶图像确定待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取缺陷的位置信息，以及根据位置信息从彩色图像中提取与位置信息相对应的缺陷图像。采用上述自动光学检测方法及装置检测待测物的缺陷，缩短了检测的时间，检测效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 光学 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种自动光学检测方法，用于检测待测物是否存在缺陷，其特征在于，所述方法包括步骤：对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像；获取所述待测物的彩色图像；根据所述灰阶图像确定所述待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取所述缺陷的位置信息；以及根据所述位置信息从所述彩色图像中提取与所述位置信息相对应的缺陷图像。
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