[发明专利]测试程序生成方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 201810202947.9 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN110275818A | 公开（公告）日： | 2019-09-24 |
| 发明（设计）人： | 徐成华;王朋宇;吴瑞阳 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨泽;刘芳 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试程序生成方法、装置及存储介质，该方法包括：根据在指令集合中随机选择的测试指令，随机生成测试指令序列，指令集合包括多个测试指令；在源数据集合中随机选择至少一个源数据，并使用至少一个源数据运行测试指令序列得到目标结果；将测试指令序列、至少一个源数据、目标结果打包，生成测试程序，测试程序用于测试处理器芯片的功能。本发明提供的测试程序生成方法、装置及存储介质，测试指令序列可以包括不同的指令组合，用于测试处理器芯片的不同功能。因此，当所生成的测试程序达到预设数量时，待测试的处理器芯片在运行该预设数量的测试程序时，可以提高处理器芯片功能的验证覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试程序 源数据 测试指令序列 存储介质 测试处理器 处理器芯片 测试指令 目标结果 随机选择 指令集合 预设 芯片 生成测试 随机生成 运行测试 指令序列 指令组合 打包 集合 验证 覆盖率 测试 | ||
【主权项】：
1.一种测试程序生成方法，其特征在于，所述方法包括：根据在指令集合中随机选择的测试指令，随机生成测试指令序列，所述指令集合包括多个测试指令；在源数据集合中随机选择至少一个源数据，并使用所述至少一个源数据运行所述测试指令序列得到目标结果；将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成测试程序，所述测试程序用于测试处理器芯片的功能。
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