[发明专利]一种适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法有效
| 申请号： | 201810203659.5 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108540131B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 吴建辉;包天罡;孙杰;李红;王鹏;王甫锋 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 徐莹 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法，包括：对ADC中参考比较器进行前台校准，包括：对参考比较器的正输入端和负输入端进行比较，根据该比较结果增加电压值以补偿失调；在每个转换周期下对比较器进行乱序操作，采用伪随机数序列选取一个来比较第二次转换的MSB位；对乱序操作后的比较器进行校准，包括：判断当前比较周期是否为LSB位的比较，及在判断为LSB位比较时，对参考比较器和LSB位比较器的输出结果对比，根据对比结果增加LSB位比较器输入的校准电压。本发明通过比较乱序后的LSB位比较器与固定的参考比较器输出结果的不同来进行校准，不会增加额外的时间，加快了校准算法收敛的速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 环路 结构 sar adc 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法，其特征在于，包括以下步骤：对ADC中参考比较器进行前台校准，包括：将ADC的输入短接为共模电压，对参考比较器的正输入端和负输入端进行比较，根据该比较结果，通过增加或减少校准电压的电压值以补偿正输入端或负输入端的失调；在每个转换周期下对比较器进行乱序操作，包括：第一次转换，选取前N个比较器按顺序完成MSB位比较，及对选取的N个中最后一个比较器完成LSB位比较，其中N为1以上的自然数；从第二次转换的MSB位开始，采用伪随机数序列从上一次比较中未被选中的比较器与上一次转换周期时相同比特位所用的比较器中选取一个来比较第二次转换的MSB位；对乱序操作后的比较器进行校准，包括：判断当前比较周期是否为LSB位的比较，及在判断为LSB位比较时，对参考比较器和LSB位比较器的输出结果对比，根据对比结果增加或减少LSB位比较器输入的校准电压。
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