[发明专利]一种定性检测电子产品中石棉的电子显微-X射线衍射法在审

专利信息
申请号: 201810222470.0 申请日: 2018-03-16
公开(公告)号: CN108414551A 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 王宏伟;李俊芳;付艳玲;朱玉松;夏德富;席广成;肖海清 申请(专利权)人: 中国检验检疫科学研究院
主分类号: G01N23/2005 分类号: G01N23/2005;G01N23/2202;G01N23/2206;G01N23/207
代理公司: 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 代理人: 孙国栋
地址: 100123 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种定性检测电子产品中石棉的电子显微‑X射线衍射法,是一种将扫描电子显微镜观察和X射线衍射观测相结合的方法,通过扫描电子显微镜的观察,考虑了样品的形态特性并初步确认石棉种类,进而采用X射线衍射确认石棉种类。该方法与单独使用X射线衍射法相比,使得X射线衍射观测有的放矢,其结果准确、重现性好,可用于准确鉴定出电子产品待测样品中含有的微量石棉,适用于各类电子产品中石棉的检验。
搜索关键词: 石棉 电子产品 定性检测 显微 扫描电子显微镜观察 观测 扫描电子显微镜 待测样品 单独使用 形态特性 重现性 可用 观察 检验
【主权项】:
1.一种定性检测电子产品中石棉的电子显微‑X射线衍射法,其特征在于,具体步骤如下:步骤1,制作不同种类石棉在一定放大倍数下的扫描电子显微标准图像:在加速电压为5‑15kV,放大倍数为500‑50000倍的条件下,在一定放大倍数下观察各个种类的石棉,记录扫描电子显微镜相应放大倍数下的标准图像,获得不同种类石棉标准品的形态特性;步骤2,取样并灰化处理:在待检测的电子产品上取样,以适当方式粉碎进行灰化处理,以去除有机成分,灰化温度大于500℃;步骤3,样品筛分:待已灰化的电子产品试样在干燥器中冷却至室温后,在玛瑙研钵中磨碎并通过孔径425μm~500μm的金属筛进行筛分;步骤4,扫描电子显微镜观测:对经步骤3处理后的试样进行扫描电子显微镜观测,以确认待检测的电子产品试样中是否含有纤维粒子;若无,则加大取样比例,重复步骤2至3,然后经扫描电子显微镜观测,直至确认试样中不存在石棉;若有,则将观测到的图像与步骤1中获得的扫描电子显微标准图像比较,通过比较分析形态特性确定试样中的石棉种类,继续步骤5;步骤5,进行能谱分析:将经步骤3处理后的试样取样后进行能谱分析,若纤维状粒子中不含镁、硅、氧等元素,则所述待检测的电子产品中不含石棉;若纤维状粒子中含有镁、硅、氧等元素,则继续步骤6;步骤6,石棉的X射线衍射定性确认:将经步骤3处理后的试样取样后均匀地填充在X射线衍射分析仪试样架上,按X射线衍射分析条件确认分析试样是否存在石棉的特征衍射峰,若存在,则所述待检测的电子产品中含有石棉,若不存在,则所述待检测的电子产品中不含石棉。
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