[发明专利]基带芯片性能测试方法和装置

摘要

本发明提供一种基带芯片性能测试方法和装置，待测基带芯片设置于测试板上，该方法包括：在性能测试对应的测试条件和N个测试场景下，根据性能测试对应的测试信号输出规则向待测基带芯片输出测试信号，接收待测基带芯片在测试时间内输出的定位结果，根据定位结果确定性能测试参数，性能测试参数为冷启动首次定位时间、热启动首次定位时间或重捕获时间。可测试基带芯片在不同环境下的启动性能或复锁性能，为实际应用中基带芯片的选择提供依据。

主权项

1.一种基带芯片性能测试方法，其特征在于，待测基带芯片设置于测试板上，所述方法包括：在性能测试对应的测试条件和N个测试场景下，根据性能测试对应的测试信号输出规则向所述待测基带芯片输出测试信号；接收所述待测基带芯片在测试时间内输出的定位结果；根据所述定位结果确定性能测试参数，所述性能测试参数为冷启动首次定位时间、热启动首次定位时间或重捕获时间。