[发明专利]一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法有效
| 申请号： | 201810253349.4 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN108871374B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 韩俊锋;徐思旺;井峰;阮萍;谢小平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 胡乐 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法，解决了现有运动相移法要求跟踪机构正弦运动周期大于延时时长的限制，同时提高了脱靶量延时的测量精度。该方法首先将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中，调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像；然后分别控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做大幅值低频率和小幅值高频率的正弦运动，采用运动相移法测量这两种参数条件下的脱靶量延时，相应分别记为Tc和Ts，综合得到高精度延时为：Tf+Ts×MOD(Tc,Ts)，其中MOD(Tc,Ts)表示Tc/Ts的模值。本发明利用系统自身配置，无需增加额外软硬件，能显著提高延时测量精度，简单易行，可实施性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 光电 跟踪 系统 脱靶 延时 测量 精度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法，其特征在于，包括以下环节：1)将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中，调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像，然后将模拟目标在该位置固定；2)控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做大幅值低频率的正弦运动，正弦运动的周期Tz大于预估的脱靶量延时值，正弦运动的幅值应保证整个测量过程中模拟目标不出视场；由光电跟踪系统的电子学单元实时记录角度和脱靶量数据，并采用运动相移法测量脱靶量延时，记为Tc；3)控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做小幅值高频率的正弦运动，正弦运动的周期小于Tc，记为Ts，正弦运动的幅值不大于环节2)中的幅值；由光电跟踪系统的电子学单元实时记录角度和脱靶量数据，并采用运动相移法测量脱靶量延时，记为Tf；4)综合得到高精度延时为：Tf+Ts×MOD(Tc,Ts)，其中MOD(Tc,Ts)表示Tc/Ts的模值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810253349.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
