[发明专利]离子注入装置及离子注入方法有效
申请号: | 201810256674.6 | 申请日: | 2018-03-27 |
公开(公告)号: | CN108695129B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 越智秀太;二宫史郎;高桥裕二;香川唯信 | 申请(专利权)人: | 住友重机械离子科技株式会社 |
主分类号: | H01J37/317 | 分类号: | H01J37/317;H01J37/302 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种离子注入装置及离子注入方法,能够应对多种射束条件。离子注入装置具备构成为对向晶圆照射的离子束(B)供给电子的等离子体簇射装置(60)。等离子体簇射装置(60)包含:等离子体生成室(62),具有引出向离子束(B)供给的电子的引出开口(64);第1电极(71),具有与引出开口(64)连通的开口(74),并以等离子体生成室(62)的电位为基准而被施加第1电压;第2电极(72),配置在隔着离子束(B)而与第1电极(71)相对置的位置,并以等离子体生成室(62)的电位为基准而被施加第2电压;以及控制部(86),对第1电压及第2电压分别独立地进行控制并切换等离子体簇射装置(60)的动作模式。 | ||
搜索关键词: | 离子 注入 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种离子注入装置,其具备等离子体簇射装置,该等离子体簇射装置构成为对向晶圆照射的离子束供给电子,该离子注入装置的特征在于,所述等离子体簇射装置包含:等离子体生成室,具有引出向所述离子束供给的电子的引出开口;第1电极,具有与所述引出开口连通的开口,并以所述等离子体生成室的电位为基准而被施加第1电压;第2电极,配置在隔着所述离子束而与所述第1电极相对置的位置,并以所述等离子体生成室的电位为基准而被施加第2电压;以及控制部,对所述第1电压及所述第2电压分别独立地进行控制而切换所述等离子体簇射装置的动作模式。
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