[发明专利]离线量测设备及玻璃基板的离线量测方法有效

专利信息
申请号: 201810259642.1 申请日: 2018-03-27
公开(公告)号: CN108508639B 公开(公告)日: 2020-02-11
发明(设计)人: 李昊;潘国辉;汪斌 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G09G3/00
代理公司: 44300 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了离线量测设备及玻璃基板的离线量测方法,所述离线量测设备包括:实施量测的量测机构、拾取和转移玻璃基板的机械手臂、将玻璃基板进行方向调整的旋转机构。本发明通过在离线量测设备上增加旋转机构,以及改进机械手臂和量测机构,使旋转机构、机械手臂和量测机构相互配合,进而实现对不同类型玻璃基板的量测和流片。
搜索关键词: 离线 玻璃基板 量测设备 量测 机械手臂 量测机构 旋转机构 方向调整 流片 拾取 改进 配合
【主权项】:
1.一种离线量测设备,用于对玻璃基板进行自动量测,其特征在于,所述离线量测设备包括:量测机构、机械手臂、旋转机构;/n所述量测机构用于对所述玻璃基板进行量测,所述量测机构包括:用于放置所述玻璃基板的量测平台、用于对所述玻璃基板进行量测的量测单元和第一夹板;/n所述量测平台分为第一量测区域和第二量测区域,所述第一量测区域为竖版玻璃基板区域,所述第二量测区域为横版玻璃基板区域;/n所述机械手臂用于拾取和转移所述玻璃基板,所述机械手臂包括:第一机械手臂和第二机械手臂;/n所述旋转机构设置于所述量测机构的上方,用于将所述玻璃基板旋转至所需角度,包括:用于旋转所述玻璃基板的旋转单元、用于固定所述玻璃基板的固定单元、支撑单元以及用于接受指令的控制单元;/n其中,所述玻璃基板上排布有阵列分布的阵列基板,所述阵列基板包括显示区域和外围电路区域,在对所述玻璃基板进行量测时,所述显示区域对应于操作台方向放置,所述外围电路区域对应于所述机械手臂方向放置。/n
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