[发明专利]键帽结构组装不良测试机在审
申请号: | 201810262493.4 | 申请日: | 2018-03-28 |
公开(公告)号: | CN108303246A | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 刘利刚;谭志辉;黄得力 | 申请(专利权)人: | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 朱海琳;董建林 |
地址: | 215300 江苏省苏州市玉山镇北门*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种键帽结构组装不良测试机,包括X轴向移动装置以及检测头组件,所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上,在所述驱动装置作用下沿水平方向移动,所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头,所述检测头顶面为坡面,沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布,所述检测头用于插入键帽一侧底部。本发明结构紧凑、测试效率高、准确性高以及适用范围广的特点。 | ||
搜索关键词: | 检测头组件 移动装置 键帽结构 测试机 检测头 组装 水平方向移动 压力传感器 测试效率 连接装置 驱动装置 头顶面 键帽 坡面 下沿 行进 检测 | ||
【主权项】:
1.键帽结构组装不良测试机,其特征是,包括X轴向移动装置以及检测头组件,所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上,在所述驱动装置作用下沿水平方向移动,所述检测头组件包括压力传感器(41)以及与其相连的检测头(42),所述检测头(42)顶面为坡面,沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布,所述检测头(42)用于插入键帽一侧底部。
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