[发明专利]一种芯片测试方法及芯片测试模块在审
| 申请号： | 201810280398.7 | 申请日： | 2018-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN108535630A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 孔欣 | 申请（专利权）人： | 成都锐成芯微科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试方法及芯片测试模块，涉及集成电路测试技术领域。该芯片测试方法包括以下步骤：对连接于所述芯片的测试模块进行测试；预设sign‑off的值，并根据sign‑off的值设置测试模块的延时；根据芯片预设的目标频率设置测试模块的时钟频率；判断芯片的测试模块在预设的时钟频率下是否正常工作：若测试模块在预设时钟频率下能正常工作，则继续对该芯片做完整的测试工作；若测试模块在预设的时钟频率下不能正常工作，结束测试。本发明技术方案在芯片进行量产测试时，先针对该测试模块进行测试，若测试模块在预设的目标频率下不能正常工作，则判断该芯片为不良芯片，不再做完整测试，减少了测试时间，也降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试模块 预设 芯片 测试 时钟频率 芯片测试 芯片测试模块 目标频率 集成电路测试 预设时钟频率 不良芯片 测试成本 完整测试 量产 延时 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：对连接于所述芯片的测试模块进行测试；预设sign‑off的值，并根据所述sign‑off的值设置测试模块的延时；根据所述芯片预设的目标频率设置所述测试模块的时钟频率；判断所述芯片的测试模块在预设的时钟频率下是否正常工作：若所述测试模块在预设时钟频率下能正常工作，则继续对该芯片做完整的测试工作；若所述测试模块在预设的时钟频率下不能正常工作，结束测试。
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