[发明专利]一种3D NAND存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810288884.3 申请日: 2018-03-30
公开(公告)号: CN108511454B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 刘峻 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L29/49
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 徐伟
地址: 430205 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种3D NAND存储器及其制备方法,上述3D NAND存储器包括衬底以及形成在上述衬底上的堆叠层,上述堆叠层包括沿衬底的厚度方向依次设置的若干栅极层;若干沟道孔,形成在上述堆叠层中,上述沟道孔垂直于上述衬底;沟道层,形成在上述沟道孔中;若干栅线隔槽,形成在上述堆叠层中,上述栅线隔槽将上述堆叠层分割为若干堆叠层子块;以及第一气隙,位于相邻两层上述栅极层之间;和/或,第二气隙,位于上述栅线隔槽中。本发明所提供的3D NAND的制备方法步骤简单,可操作性强,所制作的存储器栅极之间的电容耦合有效降低,栅极之间的互相干扰减小,存储器的性能更优。
搜索关键词: 一种 nand 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种3D NAND存储器,其特征在于,包括:衬底以及形成在所述衬底上的堆叠层,所述堆叠层包括沿衬底的厚度方向依次设置的若干栅极层;若干沟道孔,形成在所述堆叠层中,所述沟道孔垂直于所述衬底;沟道层,形成在所述沟道孔中;若干栅线隔槽,形成在所述堆叠层中,所述栅线隔槽将所述堆叠层分割为若干堆叠层子块;以及第一气隙,位于相邻两层所述栅极层之间;和/或,第二气隙,位于所述栅线隔槽中。
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