[发明专利]微型芯片转移系统及方法有效
| 申请号： | 201810293002.2 | 申请日： | 2018-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN108490341B | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 杨涛;陶贤文;许晋源 | 申请（专利权）人： | 惠州雷通光电器件有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01M11/00 |
| 代理公司： | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人： | 杨焕军 |
| 地址： | 516021 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微型芯片转移系统，包括用于放置微型芯片的存放装置，用于拾取微型芯片的拾取装置，用于测试微型芯片的电学测试装置以及用于接收微型芯片的接收装置；所述电学测试装置包括测试电极以及测试电路；所述测试电极的一端与所述测试电路连接，另一端为自由端；所述微型芯片包括芯片电极；还包括载体；所述电学测试装置与所述拾取装置均固定安装在所述载体上；所述测试电极的自由端在所述拾取装置拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接；本发明通过将拾取装置与电学测试装置固定安装在载体上，使电学测试装置不需要进行定位操作，就可以测试拾取装置拾取的微型芯片的电学性能，降低了电学测试装置定位不准造成误差的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 微型芯片 电学测试 拾取装置 测试电极 拾取 测试电路 芯片电极 转移系统 自由端 测试 存放装置 电学性能 定位操作 装置定位 装置固定 | ||
【主权项】：
1.微型芯片转移系统，包括用于放置微型芯片的存放装置，用于拾取微型芯片的拾取装置，用于测试微型芯片的电学测试装置以及用于接收微型芯片的接收装置；所述电学测试装置包括测试电极以及测试电路；所述测试电极的一端与所述测试电路连接，另一端为自由端；所述微型芯片包括芯片电极，其特征在于：还包括载体；所述电学测试装置与所述拾取装置均固定安装在所述载体上；所述测试电极的自由端在所述拾取装置拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接；所述测试电路在所述测试电极与所述芯片电极连接时输出电信号给所述芯片电极；所述微型芯片转移系统还包括至少一个配送装置，所述配送装置设置在所述拾取装置的下方，所述配送装置用于接收拾取装置拾取的合格的微型芯片，翻转所述合格的微型芯片，使所述合格的微型芯片的芯片电极与所述接收装置相对。
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