[发明专利]有助于产品缺陷的误差分析的系统和方法

摘要

本申请公开了一种有助于产品缺陷的误差分析的系统和方法。系统可包括处理器，处理器被配置成：将与产品的生命周期相关的生命周期信息存储在生命周期数据库中；将与产品的制造操作相关的制造操作信息存储在制造操作数据库中；将与产品的生命周期问题和/或不合格项相关的另外生命周期信息存储在生命周期数据库中；将与产品的顾虑和/或投诉相关的另外制造操作信息存储在制造操作数据库中；将与来自生命周期数据库的另外生命周期信息相关的第一参考信息存储在制造操作数据库中；通过显示装置生成图形用户界面(GUI)；使制造操作信息、另外制造操作信息以及另外生命周期信息在GUI中显示。

主权项

1.一种有助于产品缺陷的误差分析的系统，其特征在于，包括：至少一个处理器，被配置成：将与产品的生命周期相关的第一生命周期信息存储在生命周期数据库中，所述第一生命周期信息包括以下中的至少一种：概念信息、设计信息、实现信息、审查计划信息或它们的任何组合；将与所述产品的制造操作相关的第一制造操作信息存储在制造操作数据库中，所述第一制造操作信息包括以下中的至少一种：生产数据、产品验证数据、审查执行数据或它们的任何组合；将与所述产品的生命周期问题和/或不合格项相关的第二生命周期信息存储在所述生命周期数据库中；将与所述产品的顾虑和/或投诉相关的第二制造操作信息存储在所述制造操作数据库中；将与来自所述生命周期数据库的所述第二生命周期信息相关的第一参考信息存储在所述制造操作数据库中；通过显示装置生成图形用户界面，所述显示装置使得存储在所述制造操作数据库中的所述第一制造操作信息、存储在所述制造操作数据库中的所述第二制造操作信息以及使用存储在所述制造操作数据库中的所述第一参考信息的、存储在所述生命周期数据库中的所述第二生命周期信息能够在所述图形用户界面中显示；使存储在所述制造操作数据库中的所述第一制造操作信息、存储在所述制造操作数据库中的所述第二制造操作信息以及使用存储在所述制造操作数据库中的所述第一参考信息的、存储在所述生命周期数据库中的所述第二生命周期信息在所述图形用户界面中显示。