[发明专利]基于荧光材料的无损检测方法在审
| 申请号： | 201810308348.5 | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN108562565A | 公开（公告）日： | 2018-09-21 |
| 发明（设计）人： | 薛笑杰 | 申请（专利权）人： | 薛笑杰 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/95 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 130000 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于荧光材料的无损检测方法,所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层；2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面；3)采集激发的荧光信号换算处理为待测产品表面的形态信息，本发明的无损检测方法可通过在待测产品表面覆盖荧光剂层通过非平行激发光激发获得对应的荧光信号从而获得被测产品的表面形态信息。 | ||
| 搜索关键词： | 待测产品表面 无损检测 荧光剂层 荧光材料 荧光信号 非平行 覆盖 表面形态信息 激发光照射 被测产品 形态信息 激发光 激发 换算 采集 | ||
【主权项】：
1.基于荧光材料的无损检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层；2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面；3)采集激发的荧光信号换算处理获得待测产品的表面信息。
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