[发明专利]一种金刚石检测方法及检测装置有效

专利信息
申请号: 201810310797.3 申请日: 2018-04-09
公开(公告)号: CN108709877B 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 陈一圣;王鹏飞;王孟祺;秦熙;杜江峰 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明实施例公开了一种金刚石的检测方法及检测装置,该检测方法通过对金刚石样品中固有的氮‑空位发光点缺陷的光探测磁共振谱曲线来检测来确定该样品是否为金刚石样品,当所述光谱曲线中存在第二频率的波峰或波谷时,判定该待检测样品为金刚石,并通过其谱线在外磁场下的劈裂情况进一步确定该样品是否属于单晶样品,方法简单,耗时较短,检测装置成本低,且不会对金刚石本身产生损坏效果。而且,本发明实施例所提供的金刚石检测方法,对待检测样品的要求较少,不但可以用于常规的金刚石块样品的检测,还适用于超薄金刚石样品等使用其他方法不易检测的金刚石样品的检测。
搜索关键词: 一种 金刚石 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种金刚石的检测方法,其特征在于,包括:将待检测样品置于预设区域中,利用第一波长的激发光照射所述待检测样品,所述待检测样品在所述激发光的照射下产生荧光信号;在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场,获取所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中,所述待检测样品产生的荧光信号的强度值;基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值,获得所述待检测样品产生的荧光信号的强度值随所述微波信号的频率变化的光谱曲线;判断所述光谱曲线中是否存在第二频率的波峰或波谷;当所述光谱曲线中存在第二频率的波峰或波谷时,判定该待检测样品为金刚石;其中,所述第一波长位于金刚石的NV色心的吸收光谱的波长范围内;所述第一频率段的端点频率与所述金刚石的NV色心产生的零场劈裂峰值频率之间的差值在第一预设数值范围内;所述第二频率与所述金刚石的NV色心产生的零场劈裂峰值频率之间的差值在第二预设数值范围内,所述第二预设数值小于所述第一预设数值。
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