[发明专利]一种PCB背钻对准度的测试结构和方法

摘要

本发明公开了一种PCB背钻对准度的测试结构和方法，涉及PCB的制造技术。该方法包括：在PCB上设置测试结构；钻出所述测试结构上的一钻孔和参考孔；对所述一钻孔进行背钻，获得背钻孔；通过所述背钻孔与所述参考孔的位置关系确定背钻对准度。本发明在进行线路图形上的背钻之前，以测试结构上的背钻作为参考，通过背钻孔与几个参考孔之间的位置关系，判断背钻是否偏孔，从而决定是否可以正常生产。一方面，可以直接从模块的表面判断是否偏孔，无需放大观察孔壁；另一方面预先在模块上进行背钻并检验，可避免线路图形上的背钻不合格造成的浪费。

主权项

1.一种PCB背钻对准度的测试结构，其特征在于，包括：多个由一个一钻孔和多个参考孔组成的测试单元；所述测试单元中，多个所述参考孔围绕所述一钻孔设置，所述一钻孔与每个所述参考孔的孔心距相等；所述一钻孔经过背钻获得背钻孔，所述背钻孔的圆心与所述一钻孔的圆心重合时，所述背钻孔的孔壁到所述参考孔的孔壁的最小距离为设定的孔间距；多个所述测试单元对应多个所述孔间距的取值。