[发明专利]SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端有效
| 申请号： | 201810323217.4 | 申请日： | 2018-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN108521571B | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 袁珊珊 | 申请（专利权）人： | 上海小蚁科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 朱薇蕾;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端，所述方法包括：获取待检测SDI芯片的信道数据，所述信道数据预存于待测芯片库；比较所述信道数据与标准值，所述标准值预存于预设标准数据库；根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。通过本发明提供的方案能够提高生产过程中对SDI芯片的筛片效率，节约时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | sdi 芯片 自动检测 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
1.一种SDI芯片自动检测方法，其特征在于，包括：获取待检测SDI芯片的信道数据，所述信道数据预存于待测芯片库；比较所述信道数据与标准值，所述标准值预存于预设标准数据库；根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。
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