[发明专利]陶瓷基片厚度检测装置在审
| 申请号： | 201810335850.5 | 申请日： | 2018-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN108426532A | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 吴瑞忠 | 申请（专利权）人： | 九豪精密陶瓷（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 姚姣阳 |
| 地址： | 21534*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种陶瓷基片厚度检测装置，包括设备平台，还包括用于承载待检测陶瓷基片的承载机构、用于执行待检测陶瓷基片厚度检测的检测机构、以及用于实现待检测陶瓷基片抓取搬运的搬运机构，所述承载机构、检测机构以及搬运机构均固定设置于所述设备平台上，所述承载机构包括上料工位台、检测工位台以及下料工位台，所述检测工位台可活动地设置于所述设备平台上，所述搬运机构与所述检测工位台相配合、共同完成待检测陶瓷基片在所述上料工位台与所述下料工位台之间的搬运。本发明自动化程度高、检测效果好而且有利于提升陶瓷基片的整体质量，具体很高的使用及推广价值。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷基片 检测 搬运机构 承载机构 设备平台 工位台 厚度检测装置 上料工位 下料工位 搬运 抓取 固定设置 厚度检测 可活动 自动化 承载 配合 | ||
【主权项】：
1.一种陶瓷基片厚度检测装置，包括设备平台（1），其特征在于：还包括用于承载待检测陶瓷基片的承载机构、用于执行待检测陶瓷基片厚度检测的检测机构、以及用于实现待检测陶瓷基片抓取搬运的搬运机构，所述承载机构、检测机构以及搬运机构均固定设置于所述设备平台上，所述承载机构包括上料工位台（2）、检测工位台（3）以及下料工位台，所述检测工位台（3）可活动地设置于所述设备平台（1）上，所述搬运机构与所述检测工位台（3）相配合、共同完成待检测陶瓷基片在所述上料工位台（2）与所述下料工位台之间的搬运。
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