[发明专利]量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质有效
| 申请号： | 201810356158.0 | 申请日： | 2018-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN108732146B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 渡边康之 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质，能够高精度地计算量子产率。在利用荧光分光光度计来计算量子产率时，校正处理部进行基于光子数(A1)和光子数(B1)来校正光子数(A2)的处理，光子数(A1)是空白测定状态下的激励光的光子数，光子数(B1)是样品测定状态下的激励光的光子数，光子数(A2)是空白测定状态下的荧光的光子数。因此，能够校正光子数(A2)来高精度地计算校正后背景光子数(A2′)。另外，量子产率计算处理部除了基于空白测定状态下的激励光的光子数(A1)和样品测定状态下的荧光的光子数(B2)以外，还基于校正后背景光子数(A2′)计算量子产率。因此，能够高精度地计算量子产率。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 计算方法 荧光 分光 光度计 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种量子产率计算方法，使激励光入射到在内部形成有用于配置样品的测定位置的积分球内，基于通过检测从所述积分球内射出的光所获得的谱来计算量子产率，该量子产率计算方法的特征在于，包括以下步骤：空白测定步骤，基于通过在所述测定位置处不存在样品的空白测定状态下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱，计算向所述积分球内入射的激励光的光子数来作为第一光子数，并且计算与激励光的波长范围不同的特定波长范围的光的光子数来作为第二光子数；样品测定步骤，基于通过在所述测定位置处存在样品的样品测定状态下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱，计算未被样品吸收的激励光的光子数来作为第三光子数，并且计算所述特定波长范围的光的光子数来作为第四光子数；校正步骤，通过基于所述第一光子数和所述第三光子数校正所述第二光子数，来计算第五光子数；以及量子产率计算步骤，基于所述第一光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数计算量子产率。
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