[发明专利]一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统有效
| 申请号： | 201810358393.1 | 申请日： | 2018-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN110059326B | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 程庆沙;宋怡然;刘莹;江黄迪威 | 申请（专利权）人： | 南方科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G06F30/373;G06F117/08 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 李艳丽 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于微波器件调试技术领域，提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。所述方法由于能为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得不用再利用微波器件实物进行调试学习，所以能够大大的降低学习成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 调试 微波 器件 仿真 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于调试微波器件的仿真方法，其特征在于，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。
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