[发明专利]一种提高硅原子的悬挂键键合的方法在审

专利信息
申请号: 201810381048.X 申请日: 2018-04-25
公开(公告)号: CN108649043A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 王喜龙;胡胜;邹文 申请(专利权)人: 武汉新芯集成电路制造有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 430205 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种提高硅原子的悬挂键键合的方法,其属于半导体领域的技术,包括:步骤S1,对一晶圆表面进行氧化,形成一氧化硅层,所述氧化硅层的上表面具有悬挂键;步骤S2,于所述氧化硅层的上表面设置一介质层;步骤S3,在预设的第一温度下对所述介质层的表面进行富氧化处理;步骤S4,于所述介质层的上表面设置一保护层;步骤S5,对所述晶圆进行退火处理。该技术方案的有益效果是:本发明通过在保护层表面通以氧化气体,氧化气体中的氧离子穿透介质层到达晶圆表面,再经过高温退火处理后,使得晶体表面的硅原子不饱和键和氧离子键合,从而提高了晶圆表面的硅原子悬挂键的键合。
搜索关键词: 硅原子 介质层 悬挂键 晶圆表面 上表面 键合 氧化硅层 氧化气体 保护层 半导体领域 一氧化硅层 不饱和键 高温退火 晶体表面 离子键合 退火处理 富氧化 氧离子 晶圆 预设 穿透
【主权项】:
1.一种提高硅原子的悬挂键键合的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,对一晶圆表面进行氧化,形成一氧化硅层,所述氧化硅层的上表面具有悬挂键;步骤S2,于所述氧化硅层的上表面设置一介质层;步骤S3,在预设的第一温度下对所述介质层的表面进行富氧化处理;步骤S4,于所述介质层的上表面设置一保护层;步骤S5,对所述晶圆进行退火处理。
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