[发明专利]一种提高硅原子的悬挂键键合的方法在审
申请号: | 201810381048.X | 申请日: | 2018-04-25 |
公开(公告)号: | CN108649043A | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 王喜龙;胡胜;邹文 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种提高硅原子的悬挂键键合的方法,其属于半导体领域的技术,包括:步骤S1,对一晶圆表面进行氧化,形成一氧化硅层,所述氧化硅层的上表面具有悬挂键;步骤S2,于所述氧化硅层的上表面设置一介质层;步骤S3,在预设的第一温度下对所述介质层的表面进行富氧化处理;步骤S4,于所述介质层的上表面设置一保护层;步骤S5,对所述晶圆进行退火处理。该技术方案的有益效果是:本发明通过在保护层表面通以氧化气体,氧化气体中的氧离子穿透介质层到达晶圆表面,再经过高温退火处理后,使得晶体表面的硅原子不饱和键和氧离子键合,从而提高了晶圆表面的硅原子悬挂键的键合。 | ||
搜索关键词: | 硅原子 介质层 悬挂键 晶圆表面 上表面 键合 氧化硅层 氧化气体 保护层 半导体领域 一氧化硅层 不饱和键 高温退火 晶体表面 离子键合 退火处理 富氧化 氧离子 晶圆 预设 穿透 | ||
【主权项】:
1.一种提高硅原子的悬挂键键合的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,对一晶圆表面进行氧化,形成一氧化硅层,所述氧化硅层的上表面具有悬挂键;步骤S2,于所述氧化硅层的上表面设置一介质层;步骤S3,在预设的第一温度下对所述介质层的表面进行富氧化处理;步骤S4,于所述介质层的上表面设置一保护层;步骤S5,对所述晶圆进行退火处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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