[发明专利]用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法有效
| 申请号： | 201810410378.7 | 申请日： | 2018-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN109802730B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 爱德温·门泽尔 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B7/08;H04B1/10 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华;李欣 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法。测量设备(4)包括：第一测量路径(10)，该第一测量路径适于从被测设备(1)接收测量信号(13)，并且从所述测量信号(13)确定第一测量值(14)。而且，该测量设备包括第二测量路径(11)，该第二测量路径适于接收所述测量信号(13)并且从所述测量信号(13)确定第二测量值(15)。最后，该测量设备包括噪声抑制器(12)，该噪声抑制器连接到所述第一测量路径(10)的输出端和所述第二测量路径(11)的输出端，并且适于接收所述第一测量值(14)和所述第二测量值(15)并且通过对于每个第一测量值，将所述第一测量值与相应的第二测量值相乘从而生成多个测量值积来抑制噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 噪声 校正 发射机 性能 测量 设备 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于发射机性能测量的测量设备(4)，包括：‑第一测量路径(10)，所述第一测量路径(10)适于从被测设备(1)接收测量信号(13)，并且从所述测量信号(13)确定第一测量值(14)，‑第二测量路径(11)，所述第二测量路径(11)适于接收所述测量信号(13)并且从所述测量信号(13)确定第二测量值(15)，以及‑噪声抑制器(12)，所述噪声抑制器(12)连接到所述第一测量路径(10)的输出端和所述第二测量路径(11)的输出端，所述噪声抑制器(12)适于‑接收所述第一测量值(14)和所述第二测量值(15)，以及‑通过对于每个第一测量值(14)，将所述第一测量值(14)与相应的第二测量值(15)相乘生成多个测量值积来抑制噪声。
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