[发明专利]一种测试装置、系统及测试方法在审
| 申请号： | 201810415117.4 | 申请日： | 2018-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN108563542A | 公开（公告）日： | 2018-09-21 |
| 发明（设计）人： | 钱芳斌;邓恩华 | 申请（专利权）人： | 中山市江波龙电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 宋建平 |
| 地址： | 528400 广东省中*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及存储测试技术领域，公开了一种测试装置、系统及测试方法,所述的测试装置用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。通过上述方式，本发明能够实现存储设备的多功能测试，提高测试效率，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 存储设备 多功能测试 测试装置 上位机 单板 测试指令 下位机 测试 测量模块 测试成本 测试效率 存储测试 通信连接 统一接口 发送 返回 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，其特征在于，用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。
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