[发明专利]三维存储器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810415320.1 申请日: 2018-05-03
公开(公告)号: CN108550574A 公开(公告)日: 2018-09-18
发明(设计)人: 夏季;吕震宇;夏志良;华文宇;戴晓望;刘念;张中;李艳妮 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L27/11514
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖
地址: 430205 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及三维存储器件及其制造方法。公开了一种三维存储器件,其包括:衬底,具有衬底表面;存储阵列区域,形成在所述衬底上,由导体层和绝缘层交替堆叠形成的等级层堆栈构成;所述存储阵列区域包括核心区域以及分别位于所述核心区域两侧的第一台阶区域和第二台阶区域,所述核心区域用于形成存储单元;所述第一台阶区域和所述第二台阶区域具有阶梯状结构,且关于所述核心区域是非对称的。
搜索关键词: 核心区域 台阶区域 三维存储器件 存储阵列区域 衬底 绝缘层 阶梯状结构 衬底表面 存储单元 交替堆叠 导体层 等级层 堆栈 制造 对称
【主权项】:
1.一种三维存储器件,其特征在于,包括:衬底,具有衬底表面;存储阵列区域,形成在所述衬底上,由导体层和绝缘层交替堆叠形成的等级层堆栈构成;所述存储阵列区域包括核心区域以及分别位于所述核心区域两侧的第一台阶区域和第二台阶区域,所述核心区域用于形成存储单元;所述第一台阶区域和所述第二台阶区域具有阶梯状结构,且关于所述核心区域是非对称的。
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